ALTERA系列三坐標(biāo)測量機(jī)
粗糙度和輪廓模塊化測量系統(tǒng)Waveline W612
SIMSCAN便攜式三維掃描儀
Waveline W10 霍梅爾Hommel 便攜式粗糙度儀 W10
德國業(yè)納Jenoptik 光學(xué)內(nèi)部檢測系統(tǒng) Visionline IPS B5
軸類件光學(xué)測量系統(tǒng) Opticline C1000系列
德國業(yè)納JENOPTIK 三維測量儀FLEX-3A系列
軸類件光學(xué)測量系統(tǒng) Opticline CA系列
霍梅爾Hommel 圓度測量儀 F435/ F455